NEU: Moderne analytische Methoden in der Papiertechnik

Heidenau, 26.10.2010 bis 27.10.2010

TEILNEHMERKREIS

Laborleiter und F&E Mitarbeiter, die sich umfassend über moderne Verfahren der Oberflächenanalytik und mikroskopische Methoden informieren möchten.

ZIEL

Den Teilnehmer aus Forschung und Entwicklung oder anspruchsvoller Reklamationsbearbeitung werden mögliche Anwendungen präsentiert. Mitarbeiter aus Universitäten und Forschungsinstituten sowie Geräteentwickler bereichern die Diskussion und den Austausch zwischen Anwendern, Forschern und Geräteentwicklern.

PROGRAMM

• Überblick über moderne analytische Methoden zur Papiercharakterisierung
  • Spektroskopische Methoden
  • Bewertung von Oberflächen mittels NIRanalytischer Methoden
  • FTIR-Mikro-ATR-Spektroskopie bei der Analyse von Papierfehlern
  • Neue Möglichkeiten der Papieranalyse durch Raman-mikroskopische Messungen
• Probenpräparation und Mikroskopie
  • Moderne Präparationstechniken und Sonderverfahren der Rasterelektronenmikroskopie
  • Konfokale Laserscanningmikroskopie und deren Einsatz bei der Prüfung von Papier
• Analytik der Papierstruktur
  • Rasterkraftmikroskopie für schnelle Produktentwicklung und Oberflächenanalyse
  • Neue Bildverarbeitungsmethoden zur berührungslosen 3D Oberflächenanalyse von Papier
  • Messtechnische Bewertung von Papierquerschnitten mittels digitaler Bildanalyse
  • Bildgebende Verfahren angewandt auf die räumliche Analyse von Papierstrukturen
  • Hochauflösende Computertomografie - neue Technik zur Bewertung von Papieren
  • Quecksilberporosimetrie für die Papierbeurteilung

Gebühr
€ 940,- (Mitglieder erhalten 10% Rabatt)