Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie  

• Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit von Rohpapieren und gestrichenen Papieren
• Fehleranalytik, u. a.
• Defekte im Papier,
• Fehler in der Papierbeschichtung (Strichausbrüche, Blasen u. ä.)
• Untersuchung von Papieren im Querschnitt
• Ermittlung der Füllstoffverteilung in z-Richtung
• Messung der Strichdicke
• Ermittlung der anorganischen Zusammensetzung von Ablagerungen im Papier, an Walzen, Sieben u. ä.
• Nutzung der Low-Vacuum-Technik zur Untersuchung von sehr empfindlichen, leicht feuchten Proben